貴金屬檢測(cè)儀原理：

由高能X射線激發(fā)原子電子層，使得原子核外電子發(fā)生躍遷，造成二次X射線能量釋放，因不同的元素釋放的能量具有不同特性，探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些能量和數(shù)量，從而計(jì)算元素含量。

主要組成部件：

高壓-光管-探測(cè)器與前放-主放-DPP-控制模

塊-通信模塊-顯示系統(tǒng)等

對(duì)貴金屬進(jìn)行分析和克拉級(jí)別鑒定

目前使用XRF分析儀對(duì)貴金屬進(jìn)行化學(xué)成份分析及純度成色判斷已經(jīng)成為一種廣泛應(yīng)用、極受歡迎，并且有國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的支持，且性能可靠的方法。與火花試金法和化學(xué)試劑測(cè)試法相比，使用XRF對(duì)貴金屬進(jìn)行分析是一種更迅速、更經(jīng)濟(jì)的多元素檢測(cè)方法。

優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)：

。超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作、超快檢測(cè)速度、超人性化界面

。易于使用，一鍵操作，即可獲得克拉等級(jí)及組成成份的分析結(jié)果

。有助于識(shí)別鍍金樣件的創(chuàng)新型功能

。機(jī)身結(jié)構(gòu)小巧結(jié)實(shí)，外形十分漂亮，適合放置于陳列展室

貴金屬檢測(cè)儀硬件性能及優(yōu)勢(shì)：

超高分辨率、超清攝像頭、超便捷操作

超快檢測(cè)速度、超人性化界面

超清攝像頭

光管電壓5KV - 50KV

高壓電源0 ~ 50KV Spellman(USA)

光管管流0μA~ 1000μA

濾光片可選擇多種定制切換

探測(cè)器Si-pin

分辦率Si-pin160土5eV

多道分析器JPSPEC-DPP

樣品腔尺寸310*280*